Наукова періодика України Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics

Gomeniuk Yu. V. 
Determination of interface state density in high-k dielectric-silicon system from conductance-frequency measurements / Yu. V. Gomeniuk // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2012. - Vol. 15, № 1. - С. 1-7. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2012_15_1_3
  Повний текст PDF - 175.403 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Gomeniuk Y.

    • Бібліографічний опис для цитування:

    Gomeniuk Yu. V. Determination of interface state density in high-k dielectric-silicon system from conductance-frequency measurements / Yu. V. Gomeniuk // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2012. - Vol. 15, № 1. - С. 1-7. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2012_15_1_3.
    Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
    (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  • Гоменюк Юрій Вікторович (фізико-математичні науки)
    •   Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського