Наукова періодика України Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics

Zubrilin N. G. 
Precise measurements of the wavelength in KrCl laser spectral region (222 nm) / N. G. Zubrilin, I. A. Pavlov, S. M. Baschenko, O. M. Tkachenko // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2016. - Vol. 19, № 2. - С. 188-191. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2016_19_2_11
The technique for precise measurements of wavelengths in the range around 222 nm (45 030 cm-1) has been presented. The reciprocal linear dispersion of the spectrometer was 0,529 Å/mm. The measurements were made in the second spectral order for a grating with 2 400 lines/mm. Identification of emission lines of hollow cathode lamp (Fe) was made in the spectral range 4 428 - 4 452 Å. The wavelengths were measured for 32 identified lines in the spectrum. The mean square error of measurements is ~0,0005 Å.
  Повний текст PDF - 254.83 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Zubrilin N.
  • Pavlov I.
  • Baschenko S.
  • Tkachenko O.

    • Бібліографічний опис для цитування:

    Zubrilin N. G. Precise measurements of the wavelength in KrCl laser spectral region (222 nm) / N. G. Zubrilin, I. A. Pavlov, S. M. Baschenko, O. M. Tkachenko // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2016. - Vol. 19, № 2. - С. 188-191. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2016_19_2_11.
      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського