Наукова періодика України | Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics | ||
Fomin A. V. Model of smoothing roughness on GaAs wafer surface by using nonabrasive chemical-and-mechanical polishing / A. V. Fomin, G. A. Pashchenko, M. Yu. Kravetskyi, I. G. Lutsyshyn // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2017. - Vol. 20, № 1. - С. 118-122. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2017_20_1_19 Studied experimentally in this work has been the process of smoothing relief roughness on the GaAs wafer surface by using the method of contactless nonabrasive chemical-and-mechanical polishing under conditions of its rotational movement relatively to the polishing plate. The model of this process has been developed under assumption that the pure diffusion smoothing mechanism takes place there. It has been shown that satisfactory correspondence between respective calculated dependences and experimental results can be reached by introducing the "effective" diffusion coefficient providing account of etchant convection. Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Fomin A. V. Model of smoothing roughness on GaAs wafer surface by using nonabrasive chemical-and-mechanical polishing / A. V. Fomin, G. A. Pashchenko, M. Yu. Kravetskyi, I. G. Lutsyshyn // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2017. - Vol. 20, № 1. - С. 118-122. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2017_20_1_19.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |