Ivanchuk O.
A study of fractal and metric properties of images based on measurements data of multiscale digital SEM images of a test object obtained / O. Ivanchuk, O. Tumska // Geodesy, cartography and aerial photography. - 2017. - Вип. 85. - С. 53-64. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Geodez_2017_85_9
Мета роботи - встановлення та дослідження фрактальних і метричних характеристик зображень, отриманих за допомогою растрових електронних мікроскопів (РЕМ). Дослідження базуються на опрацюванні даних вимірювань цифрових РЕМ-зображень тест-об'єкта, отриманих на чотирьох типах сучасних РЕМ у діапазоні збільшень від 1000<^>x до 30000<^>x (крат). Встановлено аналітичне співвідношення між фіксованим на шкалі приладу і "фрактальним" збільшенням (масштабом). Виконано розрахунок коефіцієнтів подібності та експоненціальних показників для фрактальних збільшень (масштабів) уздовж осей x та y для 4-х типів РЕМ. Отримано та наведено формули для розрахунку можливого діапазону збільшень зображень тест-об'єкта залежно від кроку тест-об'єкта, розміру піксела та масштабу. Отримані співвідношення для обчислення фрактальних масштабів надають змогу автоматично визначити дійсне збільшення (масштаб) РЕМ-зображень і разом із визначеними коефіцієнтами поліномів ефективно усувають їх дисторсійні спотворення. Розроблену методику отримання фрактальних і метричних характеристик РЕМ-зображень виконано вперше в Україні. Запропонована методика супроводжується на всіх її етапах авторським програмним забезпеченням і показала свою ефективність і доцільність. Застосування цієї методики встановлення та врахування фрактальних і метричних характеристик цифрових РЕМ-зображень надає змогу з більшою точністю визначати дійсні значення збільшень (масштабів) цифрових РЕМ-зображень і величини їх геометричних спотворень. Врахування цих характеристик РЕМ-зображень надає змогу суттєво підвищити точність отримання просторових кількісних параметрів мікроповерхонь дослідних об'єктів, а, отже, покращити їх експлуатаційні та економічні характеристики. Отримані характеристики можуть бути додатковими важливими кількісними параметрами для виявлення особливостей цифрових РЕМ-зображень.
Цитованість авторів публікації:Ivanchuk O.Tumska O.
Бібліографічний опис для цитування: Ivanchuk O. A study of fractal and metric properties of images based on measurements data of multiscale digital SEM images of a test object obtained / O. Ivanchuk, O. Tumska // Geodesy, cartography and aerial photography. - 2017. - Вип. 85. - С. 53-64. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Geodez_2017_85_9.
 Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
