Для визначення класу розподілу нерівностей шорсткої поверхні фрактального або випадкового з дисперсією фази неоднорідностей використано підхід, який базується на уявленнях сингулярної оптики. Одержано й проаналізовано карти нулів амплітуди поля залежно від зони реєстрації й параметрів випадкових і фрактальних шорстких поверхонь. Показано, що локальна густина розподілу нулів амплітуди поля розсіяного випромінювання є одним із можливих параметрів, який можна взяти за основу визначення класу розподілу нерівностей шорсткої поверхні - фрактальної або випадкової.

  Повний текст PDF - 742.724 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"