Наукова періодика України | Journal of Nano- and Electronic Physics | ||
Muratov M. Experimental Investigation of the Distribution of Energy Deposited by FIB in Ion-beam Lithography / M. Muratov, M. Myrzabekova, N. Guseinov, R. Nemkayeva, D. Ismailov, Ya. Shabelnikova, S. Zaitsev // Journal of nano- and electronic physics. - 2020. - Vol. 12, no. 4. - С. 04038-1-04038-3. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2020_12_4_40 Проведено перше і ретельне порівняння чутливості найбільш часто використовуваного покриття PMMA 950K до впливу як електронів, так і іонів галію в широкому діапазоні доз опромінення за однакової енергії пучка. Було встановлено, що покриття PMMA 950K має позитивну чутливість 0,15 мкКл/см<^>2 Цитованість авторів публікації: Бібліографічний опис для цитування: Muratov M. Experimental Investigation of the Distribution of Energy Deposited by FIB in Ion-beam Lithography / M. Muratov, M. Myrzabekova, N. Guseinov, R. Nemkayeva, D. Ismailov, Ya. Shabelnikova, S. Zaitsev // Journal of nano- and electronic physics. - 2020. - Vol. 12, no. 4. - С. 04038-1-04038-3. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2020_12_4_40.Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |