Наукова періодика України Journal of Nano- and Electronic Physics


Rodionova T. V. 
Topological Analysis of the Effect of Annealing on the Grain-Boundary Structure of Polysilicon Films / T. V. Rodionova, P. M. Lytvyn, Yu. A. Len, S. P. Kulyk // Journal of nano- and electronic physics. - 2021. - Vol. 13, no. 6. - С. 06020-1-06020-4. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2021_13_6_22
Вплив відпалювання на зернограничну структуру легованих фосфором полікремнієвих плівок, що одержано за методом хімічного осадження з газової фази, було проаналізовано шляхом проведення порівняльного аналізу даних атомної силової мікроскопії та існуючих модельних уявлень. Показано, що вирішальним фактором для застосування топографічної моделі є характер росту зерен у плівках. Модель застосовна для температур відпалювання <$Esymbol Г~1000~symbol Р roman C>, за яких спостерігається нормальний ріст зерен. Розподіли для різних типів границь зерен для полікремнієвих плівок є симетричними по відношенню до зростаючих та зникаючих границь. Структура полікремнієвих плівок рівновісьова, переважна орієнтація відсутня. За температур відпалювання <$Esymbol У~1000~symbol Р roman C> у плівках має місце аномальний ріст зерен, і розподіл типів границь зерен свідчить, що в даному температурному інтервалі топологічна модель є неприйнятною. Можна припустити, що відмінності у співвідношеннях зростаючих і зникаючих границь зерен в полікремнієвих плівках за різних температур відпалювання зумовлені різними механізмами та рушійними силами росту зерен за нормального та аномального росту. У разі нормального росту зерен переважною є рушійна сила, що зумовлена різницею густин дислокацій в суміжних зернах. При аномальному рості зерен переважає рушійна сила, яка зумовлена різницею середньої поверхневої енергії зерен, що призводить до різкого збільшення швидкості росту зерен.
  Повний текст PDF - 533.987 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Rodionova T.
  • Lytvyn P.
  • Len Y.
  • Kulyk S.

  • Бібліографічний опис для цитування:

    Rodionova T. V. Topological Analysis of the Effect of Annealing on the Grain-Boundary Structure of Polysilicon Films / T. V. Rodionova, P. M. Lytvyn, Yu. A. Len, S. P. Kulyk // Journal of nano- and electronic physics. - 2021. - Vol. 13, no. 6. - С. 06020-1-06020-4. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2021_13_6_22.

    Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
    (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  • Литвин Петро Мар'янович (фізико-математичні науки)
  •   Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського