Наукова періодика України Journal of Nano- and Electronic Physics

Bounegab A. 
Optical Characterization of SnO2 Thin Film Using Variable Angle Spectroscopic Ellipsometry for Solar Cell Applications / A. Bounegab, M. Boulesbaa // Journal of Nano- and Electronic Physics. - 2023. - Vol. 15, no. 3. - С. 03034-1-03034-6. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2023_15_3_36
  Повний текст PDF - 767.545 Kb    Зміст випуску     Цитування публікації

Цитованість авторів публікації:
  • Bounegab A.
  • Boulesbaa M.

    • Бібліографічний опис для цитування:

    Bounegab A. Optical Characterization of SnO2 Thin Film Using Variable Angle Spectroscopic Ellipsometry for Solar Cell Applications / A. Bounegab, M. Boulesbaa // Journal of Nano- and Electronic Physics. - 2023. - Vol. 15, no. 3. - С. 03034-1-03034-6. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2023_15_3_36.
      Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
     
    Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
    Пам`ятка користувача

    Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського